測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:05-30 2024 來自:祥宇精密
在工業(yè)檢測和精密測量領域,二次元測量儀發(fā)揮著至關重要的作用,而作為其中的佼佼者,祥宇二次元測量儀憑借其高精度和可靠性贏得了用戶的信賴。為了保證測量儀的長期穩(wěn)定運行和測量精度,對其光學部件進行正確的清潔和維護是至關重要的。本文將詳細介紹如何有效地清潔和維護祥宇二次元測量儀的光學部件。
選擇一個干凈、無塵的環(huán)境進行清潔工作,避免在清潔過程中有灰塵侵入。
準備專業(yè)的清潔工具,如吹塵球、鏡頭刷、專用鏡頭紙或軟布等。切記,不要使用普通的紙巾或布料,因為它們可能會刮傷鏡頭表面。
使用吹塵球或壓縮氣罐輕輕地吹掉光學部件表面的灰塵。注意力度適中,以免對光學部件造成沖擊。
使用專用的鏡頭紙或軟布輕輕擦拭鏡頭表面。在這個過程中,可以順帶清除吹塵步驟未能去除的微小顆粒。
如果在前面兩個步驟后,光學部件表面仍然有污漬,可以使用少量的專用鏡頭清潔液。注意,一定要用干凈的鏡頭紙或軟布沾取適量清潔液,而不是直接將清潔液噴灑在鏡頭上。
在不使用測量儀的時候,確保其存放在干燥、清潔、無塵的環(huán)境中。在日常使用中,避免將光學部件暴露在濕度較高或有污染的環(huán)境中。
在接觸光學部件之前,確保雙手干凈且無塵。避免直接用手觸摸鏡頭,因為皮膚上的油脂和汗?jié)n可能會污染光學表面。
制定一個定期的清潔和維護計劃,并嚴格遵照執(zhí)行。建議根據(jù)測量儀的使用頻率和工作環(huán)境來決定清潔維護的周期。